FEI Company

FEI Company
Základní údaje
Právní formanadnárodní
Datum založení1971
ZakladateléLynwood Swanson, Noel Martin
SídloHillsboro, Oregon, USA
Adresa sídlaHillsboro, 971 24, USA
Souřadnice sídla
Klíčoví lidéDr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO
Tony Trunzo, Výkonný viceprezident a CFO
Charakteristika firmy
Oblast činnostiVědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy
ProduktyFIB – fokusovaný iontový paprsek
Rastrovací elektronové mikroskopy
Transmisní elektronové mikroskopy
Micro Computing Tomography
Obrat 930 mil. USD (2015)[1]
Provozní zisk156,2 mil. $ (2013)
Výsledek hospodaření 124 mil. USD (2015)[1]
Celková aktiva 1,4 mld. USD (2015)[1]
Zaměstnanci3,060 (2015)[1]
Identifikátory
Oficiální webwww.fei.com
LEIENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
Některá data mohou pocházet z datové položky.
FEI Czech Republic s.r.o.
Základní údaje
Datum založení8. září 1992
SídloBrno, Česko
Adresa sídlaHillsboro, 971 24, USA
Charakteristika firmy
Produktyelektronové mikroskopy
Obrat 8,3 mld. Kč (2015)[2]
Výsledek hospodaření 257 mil. Kč (2015)[2]
Celková aktiva 4,5 mld. Kč (2015)[2]
Vlastní kapitál 2,8 mld. Kč (2015)[2]
Zaměstnanci 950 (2018)[2]
Mateřská společnostFEI CPD B.V. (100%)
Identifikátory
IČO46971629
LEIENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
Některá data mohou pocházet z datové položky.

FEI Company je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele[3] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:

  • výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
  • přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
  • elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
  • průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie

Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů, rentgenového záření a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a X-ray mikro tomografy (mikro CT) . Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (HillsboroOregon, USA) a v Evropě (BrnoČeská republika, EindhovenNizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.

Jednou z důležitých dceřiných společností je FEI Czech Republic s.r.o. (dříve DELMI,spol. s r.o. a Philips Electron Optics Česká republika s.r.o.) se sídlem v Brně.

Historie

FEI ve světě

  • 1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
  • 1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
  • 1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
  • 1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
  • 1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
  • 1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
  • Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
  • 1985Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
  • 1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
  • 1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
  • 1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
  • 1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
  • 1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
  • 1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
  • 1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
  • 1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
  • 1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
  • 1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
  • 1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
  • 2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
  • 2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
  • 2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
  • 2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
  • 2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
  • 2003 - FEI získává společnost Emispec.
  • 2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
  • 2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
  • 2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
  • 2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením
  • 2011 - FEI získává Till Photonic, Mnichov, Německo (světelné mikroskopy)
  • 2012 - FEI získává společnost Aspex, Pittsburgh, USA
  • 2012 - FEI získává společnost Visualisation Sciences Group, Boedeaux, Francie (3D vizualizační software)
  • 2014 - FEI získává společnost Lithicon (Trondheim, Norsko a Canberra, Austrálie)
  • 2014 - FEI otevírá nové Technologické centrum v Brně
  • 2016 - FEI otevírá nové školící centrum pro servisní techniky a zákazníky z celého světa v Brně

Produkty FEI v Brně

Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:

  • Tři základní typy transmisních mikroskopů (Morgagni, Tecnai Spirit a Tecnai 20, určeny 200kV, 120kV a 100kV mikroskopy), určeny většinou pro biologické aplikace.
  • Tři základní rodiny rastrovacích mikroskopů (Quanta, Magellan, Nova NanoSEM).
  • Přístroje se dvěma svazky elektronů a iontů (DualBeam) spojující SEM a FIB (Quanta, Quanta 3D FEG). Viz [1]
  • Moduly urychlovacích vysokonapěťových zdrojů od 30kV do 300kV (se stabilitou 10ppm resp lepší než 1ppm). Na stabilitě a přesnosti energetického zdroje záležela i stabilita a přesnost mikroskopu.
  • Autoemisní trysky pro rastrovací mikroskopy.
  • Iontové tubusy pro použití v zařízeních DualBeam, které vytvářejí a fokusují svazek iontů gallia na preparátu velikosti stopy a průměru několik nanometrů pro zobrazení pomocí iontů.
RokTyp přístrojeVyrábí se
v současnosti
SpecifikaceTypFotografie
1993EM208nePrvní (TEM) přístroj vůbecTEM
1996EM208SneInovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvyTEM
1997XL30TMPnePrvní SEM přístroj, nárůst aktivitSEM
1998XL30ESEMnePrvní přístroj s ESEM technologiíSEM
2000XL40ESEMnePrvní ESEM se stolkem 150x150mmSEM
2000MorgagnineRadikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerouTEM
2001QuantaneNová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorekSEM
2002Quanta HVneVysokovakuová verze nové rodinySEM
2003Quanta FEGnePrvní přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologiíSEM
2003Quanta 3DnePrvní SDB s ESEM technologiíSDB
2004Tecnai G2 SpiritanoTransmisní mikroskop 120kV pro široké využitíTEM
2004Tecnai G2 20anoTransmisní mikroskop 200kV pro široké využitíTEM
2005Nova NanoSEManoPrvní ultravysokorozlišovací SEMSEM
2005Quanta MkIIanoInovace řady QuantaSEM
2005InspectanoRutinní přístroj určený především pro kontrolní účelySEM
2006Quanta FEG MKIIanoInovace rady Quanta FEGSEM
2007Quanta 3D FEGneNový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskouSDB
2007Tecnai G2 30anoTransmisní mikroskop 300kV pro široké využitíTEM
2008Versa 3DanoDual Beam s ESEM, FEI představuje nejuniverzálnější Dual Beam nástroj k dnešnímu dni.SBD
2008MagellannePrvní SEM s extrémně vysokým rozlišenímSEM
2008Quanta 3D 200ineInovace řady Quanta 3DSDB
2011Helios DualBeamanoHelios nalolab dualbeam XHR (extrémně vysoké rozlišení)SBD
2012Verios XHR SEManoVerios je druhá generace přístroje Magellan, vede XHR (extrémní vysoké rozlišení) SEM rodiny.SEM
2013TalosanoTalos je nová generace v TEM, umožňojuje rychlý přístup k 2D a 3D dat.TEM
2013Scios Dualbeamanoultra-vysokým rozlišením analytický systém Dual Beam, který poskytuje vynikající 2D a 3D, včetně magnetického materiálu.SDB
2014Teneo UHR SEManoUltra vysoké rozlišení obrazu a vysokou propustností analytická výkonnostSEM
2014Aspex ExploreranoSEM přístroj pro průmysl kontrolou kvalitySEM

Trhy FEI Czech Republic, s.r.o.

Členění přístrojového trhu

  • Nanoelektronika
  • Nanovýzkum
  • Nanoprůmysl
  • Nanobiologie

Členění trhu dle odběratele

Polovodičový průmyslPrůmysl obecněVědecký výzkum

Reference

  1. a b c d FEI Company 2015 Annual Report
  2. a b c d e Výroční zpráva společnosti FEI Czech Republic s.r.o. za rok 2015
  3. nasdaq.com - FEI Company Rings The NASDAQ Stock Market Opening Bell

Externí odkazy

https://thermofisher.jobs.cz

Média použitá na této stránce