Joint Test Action Group

Joint Test Action Group je standard definovaný normou IEEE 1149.1, tzv. Standard Test Access Port (TAP). Jedná se o architekturu Boundary-Scan pro testování plošných spojů, programování FLASH pamětí apod.

1. TDI (Test Data In)
2. TDO (Test Data Out)
3. TCK (Test ClocK)
4. TMS (Test Mode Select)
5. TRST (Test ReSeT) – volitelný

Data jsou přenášena sériově.

Přestože je JTAG standardizovaný, konektory na připojení JTAG adaptéru nikoliv. Většina výrobců používá vlastní pinout, přičemž je většinou použit "pinheader" s roztečí 2,54 mm (0,1 palce). Obecně se napříč mezi výrobci rozšířilo jen pár zapojení JTAGu (zejména MIPS EJTAG, ARM JTAG) ^[1].

JTAG je možné použít kromě primárního účelu, kterým je testování plošných spojů a interní funkce obvodů, také k programování flash pamětí, procesorů, FPGA, CPLD a dalších. K tomuto bylo vytvořeno několik standardů, např. IEEE 1532, JEDEC STAPL, nebo nestandardizovaný, ale hodně používaný Serial Vector Format ^[2].

• Obrázky, zvuky či videa k tématu Joint Test Action Group na Wikimedia Commons
• JTAG FAQ
• JTAG Standards