SIMS instrument scheme 600x600

Autor:

No machine-readable author provided. Twisp assumed (based on copyright claims).

Shortlink:

https://czwiki.cz/b/a5140

Zdroj:

Wikimedia Commons

Formát:

600 x 600 Pixel (65098 Bytes)

Popis:

Title: SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometry, instrument scheme

• Author: Twisp
• Date: 06.02.2006

Licence:

Public domain

Credit:

No machine-readable source provided. Own work assumed (based on copyright claims).

Sdílet obrázek:

         

Více informací o licenci na obrázek naleznete zde. Poslední aktualizace: Sat, 09 Mar 2024 06:29:41 GMT

Relevantní obrázky

Relevantní články

Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, anglicky Secondary ion mass spectrometry, zkráceně SIMS, je technika sloužící k analýze složení povrchů pevných látek a tenkých vrstev pomocí vyprašování povrchu bombardujícími ionty a shromažďováním (analyzováním) vyražených sekundárních iontů. Sekundární ionty emitované z povrchu materiálu pomocí "vyprašovacího" procesu se používají k analýze chemického složení materiálu. Tyto částice však představují jen malý zlomek částic emitovaných ze vzorku. Sekundární ionty se měří hmotnostním spektrometrem určující prvkové, izotopové, nebo molekulární složení povrchu. SIMS je jedna z nejcitlivějších analýz povrchů, která je schopna detekovat prvky, i když jsou přítomny řádově jen v nanometrových oblastech. .. pokračovat ve čtení